共晶硅检测
检测项目
1.共晶硅含量测定:采用ICP-OES法测定硅元素质量百分比(12-14%)
2.微观形貌分析:扫描电镜观测硅相长径比(1.5-3.0)、分布密度(200-500个/mm)
3.相组成鉴定:XRD分析α-Al与Si相的衍射峰强度比(ISi(111)/IAl(200)≥0.85)
4.硬度测试:维氏硬度计测量基体硬度(80-120HV0.5)
5.热膨胀系数:DIL测定20-300℃范围内CTE值(18.5-21.510-6/℃)
检测范围
1.铸造铝合金(A356/A380系列)
2.电子封装用Al-Si基复合材料
3.汽车发动机缸体/活塞铸件
4.光伏多晶硅锭
5.航空航天用高硅铝合金结构件
检测方法
1.ASTME1251-17a火花原子发射光谱法测定元素含量
2.ISO4499-2:2020硬质合金金相检验方法
3.GB/T3246.1-2012铝及铝合金加工制品显微组织检验方法
4.ASTME384-22材料显微硬度测试标准
5.GB/T4339-2008金属材料热膨胀特性测定方法
检测设备
1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:配备EDS能谱仪(分辨率1.0nm)
2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm)
3.ThermoiCAPPROICP-OES光谱仪:轴向观测等离子体系统
4.Zwick/RoellZHVμ显微硬度计:载荷范围10gf-10kgf
5.NetzschDIL402Expedis热膨胀仪:温度范围-150℃至1550℃
6.LeicaDM2700M金相显微镜:配备LAS图像分析系统
7.ShimadzuEPMA-8050G电子探针:波谱分辨率5eV
8.MTSCriterion万能试验机:载荷容量50kN
9.OxfordInstrumentsAztecLiveEBSD系统:空间分辨率50nm
10.LecoRH-404定氢仪:检测下限0.01ppm
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。